温度寿命试验主要是为了验证产品在规定温度条件下，处于工作状态或贮存状态时，其使用寿命到底有多长，即要了解产品在一定温度条件下，保持长时间的使用寿命。根据工作状态、贮存状态，产品温度寿命试验可以分为工作温度寿命试验、贮存温度寿命试验。
   对于电子产品而言，温度寿命试验时间很长。所以为便于快速评价产品在一定温度下的可靠性，电子产品生产厂家就需要做温度加速寿命的试验。而按照增加温度应力的方式，温度加速寿命试验可以分为恒定应力、步进应力、序进应力加速寿命试验三种。

温度寿命试验分类如下：

1. 工作温度寿命试验：

在一定温度环境条件下施加负荷，模拟使用状态的试验。其目的是验证产品首次使用到修理的使用周期或使用寿命指标量值。

2. 贮存温度寿命试验：

有的电子产品出厂以后，通常要经历长时间的贮存。在贮存环境温度的作用下使产品性能参数发生变化，当参数变化超过允许值时，产品将失效不能满足使用要求。为了评价产品的贮存期到底有多长的试验，称为贮存温度寿命试验。产品在贮存过程中处于非工作状态，贮存环境温度应力比工作温度应力小得多。产品因贮存而失效，就需要一个长期的缓变过程。通过对产品这种缓变过程的评估，以便决定在产品贮存失效前是否启封使用，或采取修复、更换等措施，延长贮存期。因此，产品贮存温度寿命试验是保证产品在一定温度下可靠性的重要工作项目之一。

3. 温度加速寿命试验：

用加大温度应力，而又不改变失效机理的办法，使产品的故障进程加速。根据温度加速寿命试验结果，可以推出正常使用状态或降额使用状态下的产品寿命。

按照施加应力的方式不同，温度加速寿命试验可以分为三种：

1. 恒定应力加速寿命试验：

该试验方法是将试样分为几组，每组在固定的应力水平下进行寿命试验，各应力水平都高于正常工作条件下的应力水平， 试验做到各组样品均有一定数量的产品发生失效为止。

2. 步进应力加速寿命试验：

将受试样品分成几组，每组样品固定一个试验时间间隔，从低应力级开始试验，每次试验增加一级应力，看那一级应力水平会引起产品故障；

3. 序进应力加速寿命试验：

试验的试验应力是随着时间增大的，而且按线性或其他规律连续等效地增加应力水平，直到试验样品出现故障。